زبری نانومتری بر سطح الیاف پلی‌استر با استفاده از عمل‌آوری فرابنفش-ازن

نویسندگان

  • اکبر خدامی دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی نساجی، کد پستی 8311-84156
  • جلال رحمتی‌نژاد دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی نساجی، کد پستی 8311-84156
چکیده مقاله:

فرضیه: در سال‌های اخیر روش‌های جدیدی مانند پلاسما، پرتودهی فرابنفش و عمل‌آوری با ازن برای اصلاح سطح پلیمرها به‌کار گرفته شده است. اصلاح سطح الیاف پلیمری برای بهبود قابلیت رنگرزی و ایجاد خواص فیزیکی مطلوب مانند جذب رطوبت زیاد و الکتریسیته ساکن کم انجام می‌شود. در این مطالعه، برای اصلاح خواص سطحی الیاف پلی‌استر و اکسایش سطحی آن‌ها، روش ترکیبی جدید از راه عمل‌آوری با فرابنفش-ازن با دو شیوه خشک و تر به‌کار گرفته شد.روش‌ها: برای اصلاح سطح الیاف پلی‌استر، عمل‌آوری با فرابنفش-ازن روی نمونه‌های خشک و نیز پیش‌آغشته‌سازی نمونه‌ها با آب و محلول‌های هیدروژن پراکسید و هیدروژن پراکسید-سدیم سیلیکات انجام شد. به‌منظور بررسی گروه‌های عاملی و شکل‌شناسی نمونه‌ها و مقایسه آن‌ها با نمونه شاهد به‌ترتیب از طیف‌نمایی زیرقرمز تبدیل فوریه (FTIR) و میکروسکوپی الکترون پویشی (SEM) استفاده شد. همچنین، جذب رطوبت و مقدار الکتریسیته ساکن نمونه‌ها بررسی شد. یافته‌ها: نتایج طیف‌های FTIR حاکی از افزایش شایان توجه گروه‌های عاملی اکسیژن‌دار مانند هیدروکسیل و کربونیل در نمونه‌ها در اثر عمل‌آوری با فرابنفش-ازن بود. عکس‌های SEM نشان داد، زبری نانومتری روی سطح نمونه‌های عمل‌آوری‌شده ایجاد شده است. همچنین نتایج نشان داد، جذب رطوبت نمونه‌های عمل‌آوری‌شده افزایش و در پی آن مقدار الکتریسیته ساکن کاهش یافته است. طبق نتایج، پیش‌آغشته‌سازی نمونه‌ها اثر زیادی بر فرایند اکسایش سطحی دارد.  

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

مقدمه‌ای بر عمل‌آوری با تابش فرابنفش/ ازن و کاربرد آن در مهندسی سطح الیاف و فیلم‌های پلیمری

تابش فرابنفش/ ازن فناوری سریع و سازگار با محیط زیست برای اصلاح خواص سطح الیاف و فیلم‌های پلیمری ‌می‌‌باشد. در این مقاله ضمن معرفی عمل آوری تابش فرابنفش/ ازن و عوامل مهم این پروسه، سازوکار عملکرد این فرآیند از جنبه‌های گوناگون (شیمیایی و فیزیکی) بررسی شده است. شکل‌گیری رادیکال‌های آزاد بر سطح (به دلیل فعل و انفعالات نورشیمیایی) و ایجاد زبری‌های سطحی (به‌دلیل اثر اچ فیزیکی)، دو عامل کلیدی در مهند...

متن کامل

اصلاح سطح الیاف پلی پروپیلن با استفاده از تابش پرتوهای ریزموج و فرابنفش

پلی‌ پروپیلن به دلیل داشتن ماهیت غیرقطبی از نظر کاربردهای ویژه‌ ای که متأثر از خواص سطح الیاف است، محدودیت دارد. امروزه اصلاح سطح الیاف پلی‌ پروپیلن به دلیل معایبی همچون جذب رطوبت کم و مشکل الکتریسیته ساکن به یکی از موضوعات مورد توجه پژوهشگران تبدیل شده است. در این طرح، به منظور اصلاح سطح الیاف پلی‌ پروپیلن از عملیات اکسایش سطح با استفاده از هیدروژن پراکسید - تابش پرتوهای فرابنفش و ریزموج، به ع...

متن کامل

تصحیح تصویر حاصل از پروفایلومترها از سطوحی با زبری نانومتری

در این مقاله نشان می­دهیم که فرآیندهای مارکوف نقشی اساسی در جاروب سطح زبر و مشخص کردن توپوگرافی آن سطح دارند. توپوگرافی سطح حاصل شده از یک پروفایلومتر مانند میکروسکوپ نیروی اتمی AFM (Atomic Force Microscope)، وابسته به برهمکنش سطح با سوزن پروب است. وقتی سایز سوزن پروب با تغییرات ارتفاع سطح قابل مقایسه باشد، تصویر سطح نسبت به سطح اصلی مقداری متفاوت خواهد داشت. اثر سوزن باعث بوجود آمدن یک تلاقی د...

متن کامل

ازن ورد سپهر و پرتو فرابنفش رسیده به سطح زمین

با استفاده از مدل فیزیکی پیچیده عبورتابشی‘ مقدار جذب پرتو فرابنفش(UVB) توسط ازن ورد سپهر با مقدار مشابه ازن در پوشسپهر با زوایای تابش خورشیدی مختلف مقایسه می شود. نتایج نشان می دهند که با زوایای تابش کمتر از 60 درجه‘ در صورتکه یک لایه ابر در آسمان باشد‘ ازن موجود در وردسپهر نسبت به ازن پوشسپهر ‘ پرتوهای فرابنفش(nm 320-280) را دو برابر بیشتر جذب می کند. ابرها و هواویز با افزایش پراکنش در جو اثر...

متن کامل

پراکندگی موج از سطوح فراکتالی با زبری نانومتری

در این مقاله اثر سه طول مشخصه طول موج پرتو تابیده شده به سطح (l)، زبری (s) و طول همبستگی سطح (x) برای سطوح با زبری نانومتری با استفاده از شدت موج پراکنده شده به کمک تئوری پراکندگی موج کیرشهف مطالعه شده است. در این مطالعه مشخص شد که مقیاس طول همبستگی نقش مهمی در نوع پراکندگی از سطوح زبر با زبری نانومتری بازی می‌کند. تاکنون در اغلب گزارش‌ها برای پراکندگی موج از سطوح زبر از پارامتر بدون بعد ks است...

متن کامل

اندازه‌گیری ضخامت و زبری لایه‌های نانومتری با استفاده از نمودار شدت فریزهای تداخلی

In the standard optical interference fringes approach, by measuring shift of the interference fringes due to step edge of thin film on substrate, thickness of the layer has already been measured. In order to improve the measurement precision of this popular method, the interference fringes intensity curve was extracted and analyzed before and after the step preparation. By this method, one can ...

متن کامل

منابع من

با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده

{@ msg_add @}


عنوان ژورنال

دوره 32  شماره 6

صفحات  457- 471

تاریخ انتشار 2020-02-20

با دنبال کردن یک ژورنال هنگامی که شماره جدید این ژورنال منتشر می شود به شما از طریق ایمیل اطلاع داده می شود.

میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com

copyright © 2015-2023